Алмазов-Долженко К.И., Коэффициент шума и его измерение на СВЧ.

2000, изд-во: Научный мир, город: М., стр. : 240 с., обложка: Твердый издательский переплет, формат: Обычный, состояние: Отличное. Тираж 500 экз. Монография посвящена теоретическим и практическим вопросам оценки чувствительности усилительных и приемных устройств в СВЧ диапазоне. Она является обобщением результатов собственной многолетней работы автора и его коллектива в ГНПП `Исток`, а также работ других исследователей по рассматриваемому вопросу. В книге проводится классификация и уточнение шумовых параметров, используемых для оценки чувствительности СВЧ усилительных приборов, в том числе в СВЧ тракте с рассоmасованием. Даются рекомендации по использованию тех или иных шумовых параметров в зависимости от свойств и условий применения исследуемого прибора. Описываются и анализируются основные методы измерения коэффициента шума и шумовой температуры усилительных устройств. Указываются возможные источники погрешности измерений и пути уменьшения ошибок. Рассматривается аппаратура для измерения шумов. Вводится понятие `обобщенной структурной схемы измерителя коэффициента шума (ИКШ)`. Формулируются требования к ее составным частям, предлагается методика расчета обобщенной схемы. Рассматриваются варианты более детального построения измерительных схем, назначение отдельных элементов и требования к ним. Кратко рассматриваются генераторы шума различного типа. Описываются некоторые характерные отечественные и зарубежные ИКШ. Рассмотрены методы поверки измерительной аппаратуры. Даются рекомендации о направлениях дальнейшего развития работ по проблеме оценки чувствительности приемных СВЧ устройств. Приводится библиография, содержащая около 200 источников и позволяющая при необходимости более подробно ознакомиться с затронутыми вопросами. В Приложении приводятся сведения о комплекте генераторов шума и СВЧ микрополосковых узлах, разработанных в ГНПП `Исток`, которые, мoгyт быть использованы при разработке ИКШ в любом участке СВЧ диапазона. Работ по шумовым измерениям, в частности, в бурно развивающемся диапазоне СВЧ, выпущено в течение последних лет чрезвычайно мало. Поэтому книга, написанная известным специалистом в этой области, в котоpoй систематически изложены вопросы, актуальные для важноrо научно-технического направления, будет полезной разработчикам электронных приборов и СВЧ систем, метрологам в соответствующей области, аспирантам и студентам.