Микроанализ и растровая электронная микроскопия Под редакцией Морис Ф., Мени Л., Тиксье Р.
1985, изд-во: Металлургия, город: Москва, стр. : 392 с., обложка: Твердый издательский переплет, формат: Обычный, состояние: Хорошее (титульный лист отрывается от крепления). Изложены теория и практическое применение растровой электронной микроскопии и физических методов микроанализа: Оже-спектроскопии, масс-спектроскопии вторичных ионов, ядерного и лазерного микрозондов в физике твердого тела, металлургии и геологии. Рассмотрен метод количественного рентгеновского микроанализа, основанный на применении ЭВМ. Книга предназначена для научных и инженерно-технических работников - физиков и материаловедов. Может быть полезна преподавателям и студентам вузов соответствующих специальностей. Ил. 320. Табл. 35. Библиогр. список: 466 назв.
