1991, изд-во: Наука. Сибирское отделение, город: Новосибирск, стр. : 253 с., обложка: Твердый издательский переплет, формат: Обычный, состояние: Очень хорошее. В сборник включены работы участников IV Всесоюзной конференции по эллипсометрии, проходившей 19 - 21 июля 1989 года в Новосибирске. Освещается широкий круг вопросов: отражение света от шероховатой поверхности твердых тел, анизотропных систем, обработка результатов эллипсометрических измерений, применение эллипсометрии в физико-химических исследованиях, в полупроводниковой и оптической технологии, создание новых типов эллипсометров и автоматизированных эллипсометрических систем, способных давать уникальную информацию о состоянии поверхности и структуре тонких пленок. Книга представляет интерес для специалистов, работающих в области физики и физической химии поверхности, полупроводниковой микроэлектроники и оптики тонких пленок
