Кулешов В., Кухаренко Ю. и др., Спектроскопия и дифракция электронов при исследовании поверхности твердых тел.

1985, изд-во: Наука, город: Москва, стр. : 290 с., обложка: Издательский твердый переплет, формат: Обычный, состояние: Очень хорошее. В книге рассмотрены вопросы теории и применения современных методов исследования состояния поверхности, основанных на использовании электронных пучков. Подробно описаны особенности следующих методов: характеристических потерь энергии при отражении электронов от поверхности твердых тел: Электронной оже-спектроскопии: дифракции медленных электронов: дифракции быстрых электронов на отражение. Изложены основные теоретические закономерности упругого и неупругого взаимодействия электронов с веществом и различные экспериментальные методы исследования поверхности твердого тела. Издание предназначено для широкого круга инженеров и научных работников, занимающихся проблемами физики и химии поверхности твердых тел и электронной спектроскопии поверхности.