Боуэн Д., Таннер Б., Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография

2002, изд-во: Наука, город: Санкт-Петербург, стр. : 274 с., 147 ил., обложка: Твердый издательский переплет, формат: Увеличенный, состояние: Очень хорошее. В монографии английских ученых освещены основы теории и практики современных неразрушающих рентгеновских методов исследования и контроля реальной структуры материалов электронной техники. Объединены высокоразрешающая дифрактометрия и топография, которые особенно эффективно используются совместно, охвачены все аспекты их применения. Особое внимание уделено интерпретации дифракционных данных и изображений дефектов в кристаллах, а также современной технике исследований, включая использование сверхмощных источников синхротронного излучения. Для научных работников, инженеров, преподавателей и студентов, специализирующихся в области материаловедения, кристаллофизики и технологии материалов электронной техники