Методы анализа поверхностей. Под ред. А.Зандерны. Пер. с англ.
1979, изд-во: Мир, город: Москва, стр. : 584 с., обложка: Твердый издательский переплет, формат: Обычный, состояние: Хорошее(утрачен свободный лис нахзаца, блок в отличном состоянии). Книга написана коллективом специалистов США и ФРГ и посвящена методам анализа поверхности твердого тела. Дается общая классификация этих методов и подробно излагаются такие методы, как спектрометрия рассеяния медленных ионов, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электронная Оже-спектроскопия, вторично-ионная масс-спектрометрия и полевая масс-спектрометрия.
