Кулешов В., Кухаренко Ю. и др., Спектроскопия и дифракция электронов при исследовании поверхности твердых тел. Серия: Физика, химия и механика поверхности.
1985, изд-во: Наука, город: М., стр. : 290 с. Тираж 1800 экз., обложка: Твердый издательский переплет, формат: Обычный, состояние: Отличное. В книге рассмотрены вопросы теории и применения современных методов исследования состояния поверхности, основанных на использовании электронных пучков. Подробно описаны особенности следующих методов: характеристических потерь энергии при отражении электронов от поверхности твердых тел; электронной оже-спектроскопии; дифракции медленных электронов; дифракции быстрых электронов на отражение. Изложены основные теоретические закономерности упругого и неупругого взаимодействия электронов с веществом и различные экспериментальные методы исследования поверхности твердого тела.
